ZSX Primus IV

Rigaku ZSX Primus IV是一種管式以上的連續(xù)波長色散X射線熒光（WDXRF）光譜儀，可以快速定量測定鈹（Be）到鈾（U）中的主要和次要原子元素，樣本類型 - 以低標(biāo)準(zhǔn)。

新的ZSX指導(dǎo)專家系統(tǒng)XRF軟件

ZSX指導(dǎo)為XRF測量和數(shù)據(jù)分析的各個(gè)方面提供支持。準(zhǔn)確的分析只能由專家進(jìn)行嗎？不 - 那是過去。ZSX Guidance軟件具有內(nèi)置的XRF專業(yè)知識和熟練的專家知識，可以處理復(fù)雜的設(shè)置。操作員只需輸入有關(guān)樣品，分析組分和標(biāo)準(zhǔn)組成的基本信息。具有最小重疊，最佳背景和校正參數(shù)（包括線重疊）的測量線可以借助質(zhì)譜自動設(shè)置。

輕元素XRF表現(xiàn)與倒置光學(xué)為可靠性的*

ZSX Primus IV具有創(chuàng)新的光學(xué)上述配置。由于樣品室的維護(hù)，再也不用擔(dān)心被污染的光束路徑或停機(jī)時(shí)間。光學(xué)元件以上的幾何結(jié)構(gòu)消除了清潔問題并延長了使用時(shí)間。ZSX Primus IV WDXRF光譜儀具有的性能和分析最復(fù)雜樣品的靈活性，采用30微米的管子，這是業(yè)界最薄的終端窗口管，可提供出色的輕元素（低Z）檢測限。

映射和多點(diǎn)XRF分析

結(jié)合*測繪包裝來檢測均勻性和包裹體，ZSX Primus IV可以對樣品進(jìn)行簡單詳細(xì)的XRF光譜測量研究，以提供其他分析方法不易獲得的分析見解。可用的多點(diǎn)分析還有助于消除不均勻材料中的采樣誤差。

使用EZ-scan軟件的SQX基本參數(shù)

EZ掃描允許用戶在未事先設(shè)置的情況下對未知樣品進(jìn)行XRF元素分析。節(jié)省時(shí)間功能只需點(diǎn)擊幾下鼠標(biāo)并輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件，它可以提供最準(zhǔn)確，最快速的XRF結(jié)果。SQX能夠自動校正所有的矩陣效應(yīng)，包括線重疊。SQX還可以校正光電子（光和超輕元素），不同氣氛，雜質(zhì)和不同樣品尺寸的二次激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫和的掃描分析程序可以提高準(zhǔn)確度。

特征

• 從Be到U的元素分析

• ZSX指導(dǎo)專家系統(tǒng)軟件

• 數(shù)字多通道分析儀（D-MCA）

• EZ分析界面進(jìn)行常規(guī)測量

• 管道上方的光學(xué)器件使污染問題最小化

• 占地面積小，使用的實(shí)驗(yàn)室空間有限

• 微量分析可分析小至500μm的樣品

• 30μ管提供的輕元素性能

• 映射功能的元素地形/分布

• 氦氣密封意味著光學(xué)器件始終處于真空狀態(tài)